问：微跌试验和自由跌落试验有什么区别？各测什么？
答：两类试验回答两个问题：自由跌落（JP-217 等）测「规定的某一高度跌一次会不会坏」，考核结构与包装的抗冲击余量；微跌试验（JP-218）测「日常使用中反复的小高度跌落扛不扛得住」——高度仅 60-150mm（模拟口袋、桌面高度），但以 6-20 次/min 的频率连续重复数千上万次，考核焊点、卡扣、电池连接等疲劳寿命。详细参数见产品详情页。
手机、对讲机、MP3、CD 机、电子词典等手持消费电子的可靠性验证通常两类都要做。
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