问:JP252C在铝材阳极氧化膜测量中要注意什么?
答:铝基阳极氧化膜用 N1 电涡流探头测量,量程 0-1500μm。注意三点:①氧化膜与铝基体导电性差异小,务必用随机铝基体做零点校准;②经铬酸盐等化学转化处理的部位会干扰涡流,测点尽量选纯氧化膜区域;③曲率半径小于凸 1.5mm 的边角部位读数会偏高,应避开或取多点平均。
两点校准后示值误差可控制在 ±[(1~3%)H+1]μm;高精度模式下 20μm 以下的薄氧化膜也能稳定分辨。
问:JP252C在铝材阳极氧化膜测量中要注意什么?
答:铝基阳极氧化膜用 N1 电涡流探头测量,量程 0-1500μm。注意三点:①氧化膜与铝基体导电性差异小,务必用随机铝基体做零点校准;②经铬酸盐等化学转化处理的部位会干扰涡流,测点尽量选纯氧化膜区域;③曲率半径小于凸 1.5mm 的边角部位读数会偏高,应避开或取多点平均。
两点校准后示值误差可控制在 ±[(1~3%)H+1]μm;高精度模式下 20μm 以下的薄氧化膜也能稳定分辨。
点击查看产品详情:N1探头+铝基体零点校准,避开边角与转化膜区域
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