AT58610 薄膜电容充放电测试系统

型号:AT58610
分类 电学测试 / 安柏电子 应用场景 电学测试
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用途场景

研发 实验室研发、新产品开发、技术研究
生产 生产线检测、工艺控制、制造过程监控
品控 质量检验、来料检测、成品测试
合规认证 计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训 教学实验、技能培训、实训演示
维修 设备维修、故障诊断、维护保养

规格参数

【产品概述】

AT58610电容测试系统,应用于电容器生产厂家、电容器使用单位以及电容器检测计量单位,可进行DV/DT测试。 其方法是先对被测电容器充电,在电容器快速放电过程中测量 DV/DT 值。其信号电压、频率、放电电阻可根据需要进行设置,将该信号施加于被测电容器的两端,设置好试验周期,对电容器进行连续的试验,并在试验过程中,对电容器的温升、容量及损耗进行不断的监控和记录。最后,根据电容器的温升情况和容量、损耗的变化评判电容器是否符合要求。 用这种方法进行检测,无论是材料的特征(极化特性),还是结构设计的不同(极板电阻)以及损耗的差异,都可以通过电容器的温升、容量损耗的变化直观的反映出来。


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