6362C光谱分析仪

型号:6362C
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用途场景

研发 实验室研发、新产品开发、技术研究
生产 生产线检测、工艺控制、制造过程监控
品控 质量检验、来料检测、成品测试
合规认证 计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训 教学实验、技能培训、实训演示
维修 设备维修、故障诊断、维护保养

规格型号价格

型号 规格/配置 单位 价格 批发价 备注
6362C 光谱分析仪 / 光谱范围:350nm~1200nm 登录可见 登录可见 官网规格,价格面议
6362C-H02 英文选件 / 配置英文前后面板、英文操作系统 登录可见 登录可见 官网规格,价格面议
6362C-H01 接口选件 / 含有GPIB接口、触发输入接口、触发输出接口 登录可见 登录可见 官网规格,价格面议

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规格参数

产品概述

6362C是一款高分辨、大动态高速高性能光谱分析仪,适用于350nm~1200nm光谱范围的DWDM等光系统测试;LED、FP-LD、DFB-LD等光有源器件测试;光纤等光无源器件测试。

功能特点

主要特点

20pm最小光谱分辨率

350nm~1200nm光谱扫描范围

60dB大动态范围

支持空间光输入

强大的多应用光谱数据分析功能

12.1英寸触控显示、全中文操作

20pm最小分辨率

6362C光谱分析仪支持不同光谱分辨率的设置,多种光谱分辨率设置灵活切换,最小光谱分辨率优于20pm。

20pm最小分辨率

峰值检索

6362C光谱分析仪采用拥有自主知识产权的光谱自适应峰值检索算法,峰值检索准确度高,自适应性和鲁棒性强,且运算速度快。

峰值检索

单纵模激光光谱分析

6362C光谱分析仪具备多场景光谱分析功能,针对DFB-LD等单纵模激光光源,仪器提供阈值分析和边模抑制比分析两种分析方法,有效准确的评估单纵模待测光源的中心波长、光谱带宽和边模抑制比。

单纵模激光光谱分析

多纵模激光光谱分析

针对FP-LD等多纵模激光光源,6362C光谱分析仪提供ndB损耗分析、包络分析和均方根分析三种分析方法,多维度全面评估多纵模待测光源的中心波长和光谱带宽。

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