用途场景
规格型号价格
规格参数
产品特色
- 高低感量测试应用(0.1μH~1mH)
- 10V~1000V脉冲测试电压，0.25V测量分辨率
- 高速测试最快20mS(Pulse 1.0 ; for ACQ)
- 具备电感测量接触检查功能
- 具备电感差异电压补偿功能
- 脉冲测试高取样率(200MHz)，10bits
- 崩溃电压分析功能
- 低电压量测档位,提高波形分析灵敏度(25V/50V/100V/200V/400V/800V/1000V)
- 繁中/简中/英文操作接口
- USB波形储存与画面撷取功能
- 图形化彩色显示
- 标准LAN、USB、RS232 接口
产品介绍
Chroma 19301A 为绕线组件脉冲测试器，结合了高低感量测试技术应用，拥有1000Vdc脉冲电压与200MHz高速取样率，可提供0.1uH~1mH大范围感量产品测试满足绝大部份功率电感测试需求，拥有波形面积比较(Area Size)、波形面积差比较(Differential Area)、波形颤动侦测(Flutter)、波形二阶微分侦测(Laplacian)、波峰降比侦测(ΔPeak Ratio)/波峰比侦测(Peak Ratio)及共振波面积比(ΔResonant Area)等判定方法，可有效检测线圈自体绝缘不良。
绕线组件于生产检测包含电气特性、电气安规耐压进行测试，而线圈之自体绝缘不良通常是造成线圈于使用环境中发生层间短路、出脚短路之根源。其形成原因可能源于初始设计不良、molding加工制程不良，或绝缘材料之劣化等所引起，故加入线圈层间短路测试有其必要性。
Chroma 19301A 为针对绕线组件测试需求所设计，利用一高压充电之微小电容(测试能量低)与待测线圈形成RLC并联谐振，由振荡之衰减波形，透过高速且精密的取样处理分析技术，可检验出线圈自体之绝缘不良，提供功率电感组件进行绕线质量及磁芯之耐压测试，让组件生产厂商及用户能更有效的为产品质量把关。
Chroma 19301A 应用于低感量绕线组件测试，最小感量可达0.1uH，针对低感量测试特性提供四线式测量、接触检查功能、电感检查与电压补偿功能，可避免因待测物感量变化大或配线等效电感而造成测试电压误差大，为低感量绕线组件脉冲测试最佳利器。
Chroma 19301A 于自动化生产上应用，拥有超高速测量速度有效缩短测试时间提升生产效率，且电压补偿功能改善了自动化机台配线等效电感之影响。
全新的人机操作接口，整合图形化彩色显示并提供画面撷取功能，透过前面板USB储存波形，不仅适用于生产现场，更可应用于研发、品保单位使用进行样品分析比对，大幅提升操作便利性。
量测技术
脉冲测试概论与原理
『绕线组件脉冲测试』是对待测物施加一个『非破坏性』、高速、低能量之电压脉冲。由于电容(Cs)与绕线组件并联，当脉冲电压加压于并联线路上时，电容与绕线组件产生LC谐振(Resonance)，观察谐振振荡(Oscillations)的衰减情况也就是阻尼(Damping)来了解绕线组件内部线圈的制程状态(包含线圈自体之绝缘、线圈感量及并联电容量(Cw)等状态)(如图1：测试等效电路图)。也可藉由分析/比对待测物良品与不良品之等效波形以达到判定良否之目的。绕线组件脉冲测试主要功能为提早发现绕线组件中各种潜在之缺陷(例如：绕线层间短路、电极焊接不良、内部线圈或磁芯绝缘不良等)。
▲ (图1) 测试等效电路图
▲ (图2) 耐压测试 (WV Test)
Rp检查(Rp Check)
利用波峰比侦测(Peak Ratio)来侦测Rp的大小为Chroma特有的测试技术，可检出Rp异常或劣化。部分电感待测物在测试前既已因铁芯损失过大或轻微铁芯与漆包线短路导致Q值略低(Rp小)，脉冲测试结束后，将开关开路(SW1 OFF)并观察电压震荡波形中第一个峰值与第二个峰值的衰减速度及比例之差异来检测出异常品。波峰比的值越大表示Rp的值也越大，相对的Q值也会比较高。
▲(图3) 测试波形示意图
波形判定模式
波形面积比较 (Area Size)：将样本和待测物彼此之总面积大小进行比对，面积大小与待测物线圈绝缘有关，线圈绝缘不良会造成波形快速衰减， 因此面积会相对较小。
波形面积差比较 (Differential Area)：将样本和待测物做点对点面积差异以及设定之判定条件进行比对，此测试与待测物的感量变化有关联，感量差异会造成后段线圈自体震荡频率改变使波形的点对点面积产生差异。
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