用途场景
研发
实验室研发、新产品开发、技术研究
生产
生产线检测、工艺控制、制造过程监控
品控
质量检验、来料检测、成品测试
合规认证
计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训
教学实验、技能培训、实训演示
维修
设备维修、故障诊断、维护保养
规格型号价格
规格参数
产品特色
- 50/100 MHz测试频率
- 50/100 Mbps数据速率
- 512数字信道管脚
(最高可至576数字信道管脚) - 并行测试可达512 sites同测数
- 32/64/128M Pattern内存
- 多样弹性VI电源
- 弹性化硬件结构 (可互换式 I/O, VI, ADDA)
- Real parallel Trim/Match功能
- 时序频率测试单位 (TFMU)
- AD/DA功能板卡(16/24 bits) (可选配)
- SCAN向量存储深度(最高2G bits/chain) (可选配)
- ALPG测试选配供内存IC用
- STDF工具支持
- 测试程序/pattern转换器 (J750, D10, V50,E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
- 人性化Window 7操作系统
- CRAFT C/C++ 程序语言
- 软件接口与3380P/3360P相同
- Direct mount治具可相容于3360P probe-card
- Cable mount治具可相容于3360D与3360P
产品介绍
为因应未来IC芯片须具备更高速度及更多脚位及更复杂功能的IC芯片，Chroma新一代VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高且功能更强大。
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