多层超声波测厚仪/超声波涂层测厚仪

多层超声波测厚仪JP8216;

测量范围:13~5500um(环氧树脂涂层)，300-14800um(45#钢);

分辨率:1um;

测量精度:≤土(3%H+3um)H为标准值;

声速范围:1000~9999m/s;

显示屏:800*480点阵IPS彩屏;

单位:um/mil,最小测量区域:直径6mm;

JP8216是一款手持式的超声波涂层测厚仪，采用脉冲反射超声波测量原理，专业用于陶瓷，塑料，

玻璃等可传导超声波的非金属基材表面涂层的厚度和基材自身的厚度，也可以测量金属基材表面涂层的厚

度和金属基材自身厚度。

·可同时测量多层涂层或涂层+基材厚度，满足复杂检测需求。

·仪器采用高速ADC数据采集，分辨率高达1μm。

·高清IPS彩色大屏设计，操作简单方便。

·具有增益自动切换功能，可根据材料类型和厚度自动选择合适的增益。

·超大测量范围:13~1000um(环氧树脂涂层)，300~14800um(45#钢)。

·测量波形显示，可移动波形显示区域的绿色光标，查看其余波形的数据。·具有量程设置功能，能够有效过减干扰回波。

·具有预估厚度设置功能，提高仪器对多次涂层测量的准确性。

·三种声速设置方式，灵活适应各种场景。

·具有环境温度朴偿功能，数值稳走，允许长周期校准。