用途场景
研发
实验室研发、新产品开发、技术研究
生产
生产线检测、工艺控制、制造过程监控
品控
质量检验、来料检测、成品测试
合规认证
计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训
教学实验、技能培训、实训演示
维修
设备维修、故障诊断、维护保养
规格型号价格
规格参数
产品特色
- 专为RD/QC使用者打造
- 简单易用的RD/QC人机介面
- 完整的测试案例和数据
- 内建信号资料库以符合生产测试需求
- RF ATE自动测试
- 可整合到现有的Chroma 3380/3650/3680 ATE测试方案
- 友善使用者的除错工具
- 物联网全方位测试解决方案
- Software Defined Radio (SDR) 架构，内含VSG/VSA功能
- 6GHz频率范围
- RF端口：双向和发送 (Tx)广播功能
- 完整调制支援
- 任意波形产生器和除错工具
- 用于生产自动化程式编程的API
- 射频性能
- 8射频端口
- 中频频宽：200MHz
- 最大频率范围：300KHz~6000MHz
- Chroma 3380/3650/3680数位性能
- 最高1Gbps数据速率
- 最高2048 I/O pins
- 最高128CH DPS
- 最高支援2048个DUT平行测试
产品介绍
Chroma射频晶片测试仪35806是专为RF ATE测试而设计。使用者可结合现有的Chroma3380/3650/3680系统，快速升级扩充为完整的射频晶片测试方案。 35806测试仪和3380/3650/3680系统在软硬体之间实现了全面性整合，能够迅速且无缝地提供RF ATE测试功能。
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