用途场景
研发
实验室研发、新产品开发、技术研究
生产
生产线检测、工艺控制、制造过程监控
品控
质量检验、来料检测、成品测试
合规认证
计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训
教学实验、技能培训、实训演示
维修
设备维修、故障诊断、维护保养
规格型号价格
规格参数
产品特色
- 使用白光干涉量測技術，非破壞性、快速表面形貌量測與分析
- 模組化設計可依量測需求及預算考慮進行各部件選配
- 提供多種表面參數量測功能，如斷差高度、夾角、面積、體積、粗度、起伏、薄膜厚度及平整度
- 具備暗點以及邊界錯誤問題修正演算法
- 友善的人機介面，簡單的圖形化控制系統及3D圖型顯示
- 可交換式的檔案格式，可儲存與讀取數種3D輪廓檔案格式
- 提供腳本量測功能，具備自動量測能力
产品介绍
Chroma 7503三维光学轮廓仪乃利用扫描白光干涉技术所发展之次奈米三维光学轮廓量测仪，透过精密的扫描系统以及创新演算法进行微奈米结构物表面轮廓的量测与分析。
Chroma 7503新一代的系统模组化设计，具备高度弹性之组合配置，可针对不同之量测需求配置来符合不同之量测应用；可选择单物镜或搭载电动鼻轮，可同时挂载5种物镜，使用时直接切换，省去手动更换的麻烦。可选择搭配手动或电动调整移动平台，可对样品作自动调平及定位。垂直与水准轴向扫描范围大，适合各种自动量测之应用，样品皆不需前处理即可进行非破坏、快速的表面形貌量测与分析，适合使用于业界研发生产、制程改善以及学术研究等单位。
Chroma 7503搭配使用长行程之垂直轴量测扫描行程可达到60mm，选购高精密之电动移动平台则水准轴向亦可达次微米解析，除此Chroma 7503可透过电脑控制电动移动平台进行水准扫瞄，使其水准轴向量测范围可依据客户需求修改平台尺寸。Chroma 7503搭配快速的校正程式以及演算原理，系统校正结果可以追朔至NIST标准，并结合数种创新且强固可靠的演算法，因此本系列产品可同时拥有高精准度以及大范围量测的特质。
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