用途场景
研发
实验室研发、新产品开发、技术研究
生产
生产线检测、工艺控制、制造过程监控
品控
质量检验、来料检测、成品测试
合规认证
计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训
教学实验、技能培训、实训演示
维修
设备维修、故障诊断、维护保养
规格参数
概述
白光干涉仪 AM-7000系列 最高精度0.03nm / 最大扫描速度400um/s / 超丰富测量工具 粗糙度 微观形貌 台阶高度 平面度 AM-7000 可用于对各种精密器件及材料表面进行 亚纳米级测量 ，以“面”的形式获取表面3D形貌，通过专用软件对3D形貌进行处理和分析， RMS重复性可达0.002nm 。 AM-7000 搭配大量程高速纳米 压电陶瓷 器件，最高扫描速度400um/秒，3200Hz加以业 内首创SST+GAT算法 ，可瞬间完成最高500万点云采集。
产品特性
应用示例
粗糙度
高度/高度差
三维形貌
二维尺寸
平面度
厚度
台阶高度
二维轮廓
