光电组件晶圆点测系统 Model 58635 Series

型号：58635-L

分类光子学测试 / 芯片段测试

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用途场景

研发实验室研发、新产品开发、技术研究

生产生产线检测、工艺控制、制造过程监控

品控质量检验、来料检测、成品测试

合规认证计量检测、仪器校准、精度验证

教学实训教学实验、技能培训、实训演示

维修设备维修、故障诊断、维护保养

型号	规格/配置	单位	价格	批发价	备注
58635-L	光电元件晶圆LIV点测系统	—	登录可见	登录可见	官网规格，价格面议
58635-N	光电元件近场量测点测系统	—	登录可见	登录可见	官网规格，价格面议
58635-F	光电元件远场量测点测系统	—	登录可见	登录可见	官网规格，价格面议
58635-LN	Photonics Device Probing LIV & NF Test System	—	登录可见	登录可见	官网规格，价格面议

价格与批发价对指定等级会员开放，登录或注册会员后可见；批量采购可在线询价。

随着光电组件的技术越趋成熟，应用也越来越广泛。其中，雷射二极管 (Laser Diode) 除通讯应用外，也朝消费性应用扩展。因应此全新市场，Chroma藉由多年累积之光电量测技术，开发专为消费性应用之光电组件晶圆点测系统Model 58635系列机种。

58635系列最大可测试6吋晶圆，并搭配Chroma电子之精密测试仪器设备，如电流源与温度控制器，能满足雷射二极管测试之严苛要求，雷射二极管相关光电特性参数随温度变化而有所变异，58635系列机种精准之温度控制，能提供稳定、准确之量测数值。

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