用途场景
研发
实验室研发、新产品开发、技术研究
生产
生产线检测、工艺控制、制造过程监控
品控
质量检验、来料检测、成品测试
合规认证
计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训
教学实验、技能培训、实训演示
维修
设备维修、故障诊断、维护保养
规格型号价格
规格参数
产品特色
- 高速及高精度测试
- 支援水平结构、垂直结构和倒装型芯片
- 支援到8英吋晶圆
- 支援不同电性测试范围(LD或LED)
- 精准快速对位的扫描程序
- 支援多点测试功能(multi-site)
- 支援auto load/unload
产品介绍
Chroma 58212-C是一台精准控温、多点测试、自动化的外延片(Epitaxial Wafer)/芯片(Chip)探测针光电应用测试设备，提供快速且准确的光电性能量测，广泛的应用于雷射二极体(Laser Diode)和发光二极体(Light-Emitting Diode)等产品。
58212-C的点测系统采用了灵活的设计，提供不同类型的光电元件测试，包括水平结构(Lateral)、垂直结构(Vertical)和倒装晶片(Flip Chip)；测试前的扫描程序可提供完整的晶圆扫描图以保证测试的精度；专利探针头可防止待测物刮伤并确保每一个芯片接触。
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