光电元件模组多功能测试系统 Model 58625

▲ 精确温度控制平台

Chroma 58625为3D感测发光模组之特性测试设备，可结合各种不同光学模组于同一自动化平台，精准控制温度并完成所有测试。依不同光学模组之安排，其测试内容涵盖电性、光能量、波长、近场光学、远场光学等各种光电特性参数，非常适合3D 感测发光元件之产品开发与产品品质出入料检验。

光能量与波长量测(LIV+λ)

搭配高性能积分球与高解析度光谱仪可应用于量测3D感测发光模组之光能量与波长特性，Chroma 58625并提供弹性化设计，使用者可依不同之测试需求自订测试情境，透过光能量(Light Power)、电流(Current)、电压(Voltage) 的扫描测试，可推算出各种光电参数如阀值电流(Ith)、光电转换效率(PCE)、斜率效率(SE)。

远场光学量测 (Far Field Test)

于3D感测发光模组的远场光学量测应用上，Chroma 58625以屏幕投影式技术，可量测高达120度发散角之3D感测发光模组，利用Chroma开发之独特演算法，分析远场光型，获得发散角、均匀性(beam uniformity)与IEC 60825人眼安全规范Class 1的自动判断。另外，Chroma 58625亦可搭配beam profiler，提供更高解析度之测试需求。

▲ 远场光学检测模组

近场光学量测 (Near Field Test)

近场光学量测主要应用于3D感测模组中发光晶片(Laser Diodes)之近场光学量测，搭配高性能之显微镜模组与自动寻光平台，可量测雷射(Laser Diodes)之光腰宽(Beam waist W0)、发散角(divergence angle)、射束品质(beam propagation ratio M2)；另外，应用于多光源雷射(Laser array)时，透过Chroma独特的影像分析技术可获得雷射光强度均匀性(uniformity)之资讯。

▲ 近场光学检测模组