LCR测试仪IM3523A

型号:IM3523
分类 HIOKI 日置 / 电子测量仪表 应用场景 HIOKI 日置
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用途场景

研发 实验室研发、新产品开发、技术研究
生产 生产线检测、工艺控制、制造过程监控
品控 质量检验、来料检测、成品测试
合规认证 计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训 教学实验、技能培训、实训演示
维修 设备维修、故障诊断、维护保养

规格参数

产品概述

40 Hz〜200 kHz 测量时间 : 2 ms

LCR测试仪IM3523A测量方法:连续测量不同条件

LCR测试仪IM3523A测量方法:连续测量不同条件

在电容的测量条件中希望以120Hz测量C-D。希望以100kHz测量ESR。此时用一台设备就能高速连续完成不同条件下的测量。

LCR测试仪IM3523A测量方法:具备面板读取功能,可让生产线的设置更改顺利进行

LCR测试仪IM3523A测量方法:具备面板读取功能,可让生产线的设置更改顺利进行

若要使用一台LCR测试仪对应多种产品的生产,就需要高效地进行设置更改。
IM3523A的面板保存功能可保存多达60个测量条件,以及128个诸如开路/短路补偿、电缆长度补偿等数值。通过面板读取功能,可读取已保存的测量条件。除手动读取外,还能通过外部控制端子控制面板编号的读取,从而缩短检测线自动化构建的时间。

可靠的产线检查:接触检查功能

可靠的产线检查:接触检查功能

在进行四端子测量时,可检测样品间的接触不良情况。
通过测量LPOT - LCUR间以及HPOT - HCUR间的接触电阻,若电阻值超过设定的阈值,将显示错误信息。

应用程序

应用程序

请下载示例应用程序和参阅通讯命令的使用说明
LCR测试仪应用程序请点击

精度计算软件

精度计算软件

仅需输入数值即可轻松计算精度。
LCR测试仪精度计算软件请点击

技术规格

基本参数(精度保证期1年)

测量模式LCR模式:单一条件测量

连续测量模式:通过已保存的条件进行连续测量

测量参数Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc (DC电阻), Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ)
测量量程100mΩ~100MΩ,10档量程(所有参数根据Z定义)
可显示量程Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp :

± (0.00000 [单位]〜9.99999G [单位]) Z和Y为绝对值显示

θ: ± (0.000°〜180.000°), D: ± (0.00000〜9.99999)

Q: ± (0.00〜99999.9), Δ%: ± (0.0000%〜999.999%)
基本精度Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
测量频率40Hz ~200kHz (设置分辨率:5 位分辨率)
测量信号等级

V模式,CV模式: 5mV~5Vrms,1mVrms步进

CC模式: 10μA~50mArms,10μArms步进

输出阻抗常规模式:100Ω
显示单色LCD
测量时间2ms(1kHz,FAST,代表值)
功能比较器,分类测量(BIN功能),面板锁定/保存、存储功能
接口EXT I/O(处理器),USB通讯,LAN
电源AC 100〜240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
尺寸及重量260W × 88H × 203D mm, 2.1 kg
附件电源线×1,启动指南×1,使用注意事项×1,LCR应用程序光盘×1

选件/附件

  • SMD测试治具IM9110SMD测试治具IM9110
    直接连接,2端子,DC〜1MHz,可测样品尺寸:0201(JIS)
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  • 前端探针IM9902前端探针IM9902
    用于更换L2001的前端的小型尺寸
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  • 前端探针IM9901前端探针IM9901
    用于更换L2001的前端的通用尺寸,L2001标配
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  • SMD测试治具IM9100SMD测试治具IM9100
    直接连接型,底部有电极SMD用,DC~8MHz,可测量样品尺寸:0402~1005(JIS
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  • 镊形探头L2001镊形探头L2001
    线长73cm,DC~8MHz,50Ω,前端电极间隔:0.3~6mm
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  • 4端子探头 9500-104端子探头 9500-10
    线长1m,DC~200kHz,50Ω,可测导体直径φ0.3mm~2mm
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  • DC偏置电流单元 9269-10DC偏置电流单元 9269-10
    直接连接型,40Hz~2MHz,最大外加电流DC 2A(最大外加电压DC±40V)
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  • DC偏置电压单元 9268-10DC偏置电压单元 9268-10
    直接连接型,40Hz~8MHz,最大外加电压DC±40V
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  • 测试治具9261-10测试治具9261-10
    线长1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可测端口直径:0.3~1.5mm
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  • 4端子开尔文夹9140-104端子开尔文夹9140-10
    DC~200kH,50 Ω,1 m长
    查看详情
  • 4端子探头L20004端子探头L2000
    DC~8MHz,1m长
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  • SMD测试治具9699SMD测试治具9699
    用于底部有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5
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  • SMD测试治具9677SMD测试治具9677
    用于侧面有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:3.5mm±0.5mm
    查看详情
  • SMD测试治具9263SMD测试治具9263
    直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm
    查看详情
  • 测试治具9262测试治具9262
    DC~8 MHz, 直接连接型
    查看详情
  • GENNECT One SF4000GENNECT One SF4000
    与各种测量仪器的搭配使用
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