用途场景
规格参数
产品概述
测量频率DC，4 Hz〜8 MHz的LCR测试仪
电解电容器的电容测量：LCR测试仪IM3536
根据JIS标准测试电解电容器，电解电容的电容值在不同测试频率下容值差异较大，因此需要根据实际回路的工作频率来确认电容值。
LCR测试仪IM3536宽测试频率范围DC,4Hz~8MHz，适用于以上产品特性评估。
陶瓷电容器的电容测量：LCR测试仪IM3536
陶瓷电容器可分为，随电压变化的高介电常数型和温度补偿型。JIS标准针对两种陶瓷电容特性有不同的测试要求。使用LCR测试仪IM3536的频率范围DC,4Hz~8MHz，内置电压范围10mV~5V，非常适合用于以上两种不同要求的电容测试。
电感器（线圈）的电感测量：LCR测试仪IM3536
电感器（线圈）所具备的电感和线圈的寄生电容中将LC共振现象称为自谐振。 将产生这种自谐振的频率称为自谐振频率。在评估线圈时请在比自谐振频率更低的频率下测量L和Q。
LCR测试仪IM3536的测量频率很广，可以设置为DC、4 Hz～8 MHz，可以任意改变测试频率进行测试。
测量电感器的频率特性：LCR测试仪IM3536
LCR测试仪IM3536的测量频率较广，可以设置为DC、4 Hz～8 MHz，非常适合于评估连续改变频率的测量。在计算机中安装附件LCR采用应用软件（CD-R），并通过接口（USB, GP-IB, RS-232C），可以进行扫频功能，自动测量出的测量数值能够以Excel或CSV格式进行保存。
宽广范围的测量条件下，非常适用于进行研发和评估实际使用条件的LCR测试仪
宽频率范围的LCR非常适用于研发和评估不同工作频率范围下压电元器件和线圈等的谐振频率。推荐用于评估压电元件和线圈的共振频率。若使用应用软件※则能够简单的对频率、电压和电流进行扫描和测量。
可变频率：DC, 4 Hz〜8 MHz
电压可变：10 mV〜5 V（V模式/CV模式）
电流可变：10 μA〜100 mA（CC模式）
※能够使用计算机设置扫频（或电压、电流），并将测量数据以CSV或Excel格式保存。应用软件请使用标配的CD进行安装，或从HP中下载。
连续测量功能
希望以1kHz检查电源电感的L-Q，还想检查直流电阻（Rdc）。这时，1台IM3536就可以在2种测试要求下进行连续高速测试。
LCR测试仪在自动化产线中测试可靠：测试线补偿
线长补偿设置可设置为：0 m / 1 m / 2 m / 4 m。测试线延长时也能保证精度。
LCR测试仪在自动化产线中测试可靠：接触检查功能
4端子测量时，预先设置判断测试端与被测物的接触状态。 测量LPOT〜LCUR间和HPOT〜HCUR间的接触电阻，并在超过所设阈值时发出报警信号。
精度计算软件
仅需输入数值即可轻松计算精度。
LCR测试仪精度计算软件请点击
Multi-plot
该软件能利用既定模型解析电池阻抗数据的等效回路。擅长解析Li-lon电池，特别是数十mΩ的阻抗数据。该Web软件可将数个阻抗数据同时绘制在Nyquist (Cole-Cole)或Bode plot上。 下载csv文件即可获取解析结果。
软件详情介绍网站请点击这里。
技术规格
基本参数
| 测量模式 | LCR（单一条件下测量），连续测量（保存条件下连续测量） |
|---|---|
测量参数 | Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流电阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε |
| 测量量程 | 100 mΩ~100 MΩ, 10档量程（所有参数由Z规定） |
| 显示范围 | Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等 |
| 基本精度 | Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保证范围：1mΩ~200MΩ） |
| 测量频率 | 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进) |
| 测量信号电平 | [V模式, CV模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (最大50 mA) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (最大10 mA) [V模式, CV模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (最大100 mA) [CC模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (最大5 V) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (最大1 V) [CC模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (最大1 V) [直流电阻测量]: 1 V固定 |
| DC偏压 | 发生范围：DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V) |
| 输出阻抗 | 通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω |
| 显示 | 彩色TFT5.7英寸，触摸屏 |
| 功能 | 比较器、BIN测量（2个项目10种分类），触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能 |
| 接口 | EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出 |
| 电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max |
| 体积及重量 | 330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg |
| 附件 | 电源线×1,使用说明书×1 |
选件/附件
DC偏置电压单元 9268-10
直接连接型，40Hz~8MHz，最大外加电压DC±40V
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电流BIAS 30A CN017
LCR用电流偏置单元的外挂电感，最大30A，需另配电源和9269-10
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浆料分析系统
用于推测、追求理想浆料的内部状态
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电压偏置测试系统CN010
半导体器件的直流偏置特性研究，适用于SiC、GaN、MLCC的偏压测试
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多路扫描测试软件CN040
多通道测试
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多路转换器ZC3001
高速多通道切换！
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LCR 应用软件 CN030
测量数据即时绘图！
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GP-IB连接线9151-02
2m长
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RS-232C 连接线 9637
9pin-9pin，1.8m长
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SMD测试治具IM9100
直接连接型，底部有电极SMD用，DC～8MHz，可测量样品尺寸：0402～1005（JIS
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4端子开尔文夹9140-10
DC~200kH，50 Ω，1 m长
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测试治具9261-10
线长1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可测端口直径：0.3~1.5mm
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测试治具9262
DC～8 MHz, 直接连接型
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SMD测试治具9263
直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm
查看详情- DC偏置电压单元 9268-10
直接连接型，40Hz~8MHz，最大外加电压DC±40V
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DC偏置电流单元 9269-10
直接连接型，40Hz~2MHz，最大外加电流DC 2A(最大外加电压DC±40V)
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4端子探头 9500-10
线长1m，DC~200kHz，50Ω，可测导体直径φ0.3mm~2mm
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SMD测试治具9677
用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm
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SMD测试治具9699
用于底部有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5
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前端探针IM9901
用于更换L2001的前端的通用尺寸，L2001标配
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前端探针IM9902
用于更换L2001的前端的小型尺寸
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4端子探头L2000
DC~8MHz，1m长
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镊形探头L2001
线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm
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LCR底部电极测试治具 CN027
最大15㎜＊7.75㎜＊1.7㎜；最小3.81㎜＊3.1㎜＊0.3㎜
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电池Y电容测试隔离模块 CN095
最高1000V耐压隔离，支持200 Hz ～ 30 kHz测试
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