用途场景
规格参数
产品概览
DPT800 功率器件动态参数测试系统由泰克及其方案合作伙伴协作开发,专门针对三代半导体功率器件的动态特性分析测试的高集成化系统,旨在解决客户在功率器件动态特性表征中的常见问题,包括如何设计测试高开关速度的新型功率半导体器件,如何灵活配置不同器件的测试条件,如何适配多种芯片封装形式,如何选择和连接探头进行信号测试,如何优化和抑制测试过程中的噪声和干扰,以及如何在桌面等有限空间内搭建测试准确,结果可信的双脉冲测试系统。同时系统具备良好的开放性,支持客户对测试硬件进行二次开发,帮助客户在研发设计、失效分析、进厂检测和试产阶段快速评估器件性能,更快应对市场需求改善产品性能。也帮助客户快速验证自研驱动电路,加速应用端解决方案落地。
产品介绍
安全防护:防爆、防触电、防烫伤。
使用方便:符合人体美工学的外观设计,确保使用的舒适性。
简洁美观的软件设计,操作简单易学。
高灵活度:多种测试板配置,覆盖中压/低压/PMOS器件开关测试,以及雪崩测试。
高精度:选用12 bits高分辨率示波器,正确反映波形的细节,获取特性参数的准确结果。
低回路电感设计(<40nH寄生电感)。
测试方案符合IEC60747-8/9,以及JEP相关定义 。
小体积:紧凑型一体机,可放置桌面操作。
数据管理:实时保存测试结果,同时保存波形数据,自动生成测试报告。
高效率:可进行开关参数/反向恢复/动态栅极电荷/串扰/雪崩/短路等测试。
产品参数
主要功能
该系统由功率器件开关测试板,雪崩测试板(可选),短路测试板(可选),氮化镓测试板(可选),转接适配器,高压防护罩,芯片温控系统,泰克高分辨率示波器和探头,高压电源,上位机电脑和自动化测试软件组成。
以机柜系统形式交付客户,可以通过上位机软件配置测试设备和测试项目,获取测试结果并生成数据报告。系统具备极高的测试灵活性,可以根据需求定制驱动电路板设计,更改栅极电阻,负载电感,驱动芯片等关键器件参数。在保证安全的前提下,对功率器件的动态参数进行全面精准的测试评估。
系统可以选配光隔离探头,支持对栅极电荷、串扰(Crosstalk)、上管开关特性进行测试。针对系统中高速电流的测试,使用高精度、高带宽电流传感器,帮助用户得到更准确的电流波形。
系统可选配加热器,支持温度最高为200℃,温度控制精度:±1℃,可以测试和比较不同温度条件下的器件特性。

快速筛选价值
模组厂来料检验:
快速验证供应商器件的一致性,避免因单颗器件参数异常导致模组失效。
可靠性预筛选:
剔除栅极氧化层缺陷、芯片裂纹等早期失效器件。
研发选型测试:
快速对比不同厂商/批次器件的参数差异,从而缩短选型周期。

功能优势
| 快速筛选优势 | 参数值 |
|---|---|
| 快速分拣 | 单颗器件测试时间<10秒(部分关键参数筛选可<1 秒) |
| 缺陷剔除 | 检测开路、短路、漏电超标、开关特性异常等显性和隐性缺陷 |
| 一致性分级 | 按关键参数(如 开关损耗等动态参数)的离散度分组,保证模组/系统性能一致性 |
| 成本控制 | 替代人工检测或复杂全参数测试,降低测试成本与时间成本 |
| 风险预判 | 提前筛选出潜在可靠性风险器件(如漏电偏大、阈值电压漂移),减少应用失效概率 |
